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?在過去的兩年中，隨著光纖成本的降低以及1000 Base和10g以太網(wǎng)的廣泛應(yīng)用和升級，光纖通信已成為局域網(wǎng)和無線局域網(wǎng)布線的重要組成部分。那么，鏈路故障的原因是什么？
由于光纖本身的缺陷和摻雜組分的異質(zhì)性，使傳輸?shù)墓庑盘柋簧⑸浜臀?，由于材料和制造工藝的改進(jìn)，現(xiàn)在的光纖已減少了20％。從1970年的每公里DB到每公里1 DB，與此同時，標(biāo)準(zhǔn)化組織（例如ISO 11801，ANSI / TIA / eia568b）明確規(guī)定了減少光纖鏈路的單位距離。
盡管如此，光纖本身的衰減仍然存在，因此，當(dāng)光纖鏈路過長時，整個鏈路的整體衰減將超過網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)的閾值，從而導(dǎo)致實(shí)際上，由于光鏈路中存在許多線圈，因此光鏈路的長度通常大于實(shí)際通信節(jié)點(diǎn)的物理距離，這可能導(dǎo)致通信長度過長。因此，在布線設(shè)計(jì)中必須明確定義線路的長度，以避免光纜過長，同時，一旦布線，完成后，通過儀器測量光鏈路的實(shí)際長度，如圖1所示（flukenetworks的光纖可測量光纖鏈路的每個鏈路的長度）鏈接（如果需要），以確保構(gòu)造和設(shè)計(jì)的一致性。
光纖光纜的彎曲和壓縮損耗主要是由于光不滿足內(nèi)部反射條件。
光纖有些彎曲，盡管可以彎曲，但是當(dāng)光纖彎曲到一定程度時，會改變光的傳輸路徑，從而使一部分光逸出。當(dāng)光線通過彎曲部分時，它越靠近光纖外部，傳播越快。它被傳輸?shù)浇o定的位置，它以超過光速的速度傳播，并且傳導(dǎo)模式變成了輻射模式而導(dǎo)致?lián)p耗。當(dāng)曲率半徑過去時，所導(dǎo)致的曲率損耗變得明顯，因此通常建議動態(tài)曲率半徑不小于光纜外徑的20倍，靜態(tài)曲率半徑不小于光纜外徑的15倍光纜。
在實(shí)際應(yīng)用中，光纖中的數(shù)據(jù)是線性傳輸?shù)?，如果將光纖纏繞成環(huán)形，則信號會完全丟失，因此在布線時應(yīng)特別注意保留一定角度。足夠的電路，例如沿旋轉(zhuǎn)角度，走廊，辦公室的輕微彎曲過渡，可能會導(dǎo)致傳輸故障。
在另一個實(shí)施例中，屈曲對光纖中的高階模塊進(jìn)行濾波，這提高了光衰減測量的穩(wěn)定性。圖2示出了光模量衰減的原理。盤中盤片對光纖中光信號的輻射和高層模塊的調(diào)制過程。
光纖受到不規(guī)則應(yīng)力的影響，例如當(dāng)光纖受到壓力或涂層光纖的溫度變化時，光纖軸會輕微彎曲甚至斷裂，因此傳導(dǎo)模式為轉(zhuǎn)換為輻射模式，導(dǎo)致光能損失，特別是當(dāng)光纜內(nèi)部出現(xiàn)斷裂時，如果突然發(fā)生變化而使光纖斷裂，則光纖信號的質(zhì)量會大大降低然后，OTDR檢測器可以檢測到光纖的內(nèi)部彎曲或斷裂點(diǎn)，應(yīng)注意光柵的布線距離。本地短且OTDR測試儀器的精度較高，通常建議使用分辨率小于1米的測試儀器。萬一意外死亡。
在光纖布線中，通常通過融合技術(shù)將兩個光纖段融合為一個段，由于玻璃光纖的中央層已融化，因此有必要去除皮膚。現(xiàn)場操作期間，玻璃光纖污染可能是由于操作不良和不利的施工環(huán)境而導(dǎo)致的，從而導(dǎo)致雜質(zhì)，變質(zhì)。如圖3所示，在焊接過程中密度過高甚至氣泡，最終降低了整個鏈上的通信質(zhì)量。
因此，無論是在熱熔過程還是冷熔過程中，熔化的光纖和操作過程都受到嚴(yán)格的要求和規(guī)定，以確保該點(diǎn)的衰減。熔點(diǎn)為TIA和ISO規(guī)定的0.3 DB，例如，在焊接前必須清潔機(jī)電焊接電極，焊接前必須清潔玻璃光纖以及現(xiàn)場環(huán)境的溫度濕度。光纖融合會導(dǎo)致衰減，Optifibertm可以準(zhǔn)確確定每個熔點(diǎn)的位置和損失。
主動連接也用于光纜的布線，例如法蘭的連接。此過程是靈活，簡單，用戶友好，可靠且多功能的。通常，主動連接損耗約為1db，但如果光纖的端面不干凈，連接不窄并且纖芯的直徑不匹配（如圖4所示），則連接損耗會大大增加。內(nèi)核直徑未對準(zhǔn)不僅意味著單模和多模光纖的混合，而且還意味著62.5和50線多模光纖的混合。
不管是圖案的混合還是線徑的混合，可以想到的是，從小直徑到大直徑的入射光所產(chǎn)生的光路和衰減與因此，同一根光纖在不同方向上的衰減測試結(jié)果在此階段可能會發(fā)生很大變化，有時甚至?xí)?dǎo)致“衰減”。負(fù)數(shù)”（參見圖5）?？梢允褂脙啥斯β蕼y試或otr測試（如圖6所示）輕松檢測出內(nèi)核直徑偏差。
應(yīng)該注意的是，除非由于傳輸方式，主波長和衰減機(jī)制而使光纖的纖芯直徑不同，否則不能混合單模和多模光纖。 。
正如光纖芯線的直徑不匹配一樣，光纖連接過程中也會出現(xiàn)光纖芯線的直徑，負(fù)載的不一致會導(dǎo)致光纖連接失敗，從而導(dǎo)致泄漏和泄漏。光信號的衰減。
光纖污染和尾部受潮是造成光纜通訊故障的主要原因，martintechnicalresearch進(jìn)行的一項(xiàng)獨(dú)立研究發(fā)現(xiàn)，80％的用戶和98％的供應(yīng)商都存在由光纜末端引起的問題。 70％的用戶和88％的供應(yīng)商由于拋光缺陷而出現(xiàn)問題，該指標(biāo)遠(yuǎn)高于其他導(dǎo)致光纖故障的原因。
特別是在本地網(wǎng)絡(luò)中存在大量的短跳，而大量的交換設(shè)備，光纖的插值，更換和交換非常頻繁?；覊m掉落，手指接觸，插頭脫落等，光纖連接器很容易受到污染，所有這些污染物都會影響光的傳輸。通過光纖顯微鏡（例如，來自flukenetworks的Fiberinspector） ），可以清晰地看到數(shù)十個納米光纖的末端表面，從而可以清潔彩色的末端表面。
除了共同污染外，不良的街道拋光也是照明鏈的主要故障之一，在理想的光學(xué)連接中，光學(xué)密封件的表面是平坦的且相互連接。最終，少量的光被反射，并且大部分光繼續(xù)通過端面，但是，實(shí)際上，理想的光學(xué)接頭不存在，而是或多或少地呈凸形，凹形或傾斜形。 （請參見圖7）。
用肉眼無法檢測到這些缺陷，但是當(dāng)鍵中的光信號遇到這種接合點(diǎn)時，由不規(guī)則鍵合表面產(chǎn)生的光會比理想狀態(tài)產(chǎn)生更大的反射，并產(chǎn)生OTDR曲線表明，拋光缺陷端子表面的衰減衰減區(qū)域遠(yuǎn)大于正常端子表面的衰減染色區(qū)域。 。
接觸故障主要發(fā)生在光學(xué)電路的末端，例如配電箱，光學(xué)開關(guān)等。由于操作員的疏忽和問題，光纖連接器不夠嚴(yán)格設(shè)備質(zhì)量或連接器的老化會導(dǎo)致反射損失和光信號泄漏的衰減;此外，安裝接頭的溢位會導(dǎo)致光學(xué)密封件松動，從而導(dǎo)致整個光鏈路性能參數(shù)的漂移。
鑒于上述情況，盡管光纖布線系統(tǒng)完全不受電磁干擾的影響，但是光纖通信系統(tǒng)由于其物理特性（例如，光纜長度過長）而存在許多問題。光纖，光纖的彎曲過渡，斷裂，壓縮或焊接以及纖芯直徑的不兼容；污染模式的組合，負(fù)載的直徑不匹配，接頭，拋光接頭，接點(diǎn)接觸不良等。外部壓縮和過度彎曲會導(dǎo)致光纖變形;在焊接過程中，雜質(zhì)和氣泡會改變光路的密度。線性直徑位移，端面污染，低拋光。
與傳統(tǒng)的光纜通信中的電源故障相比，由于這些物理特性而導(dǎo)致的光纖通信故障可能具有不同的原因，性能和影響，此外，光纖通信的準(zhǔn)確性使檢測變得困難。肉眼觀察到光纖故障，例如，沒有因終端表面污染和閥桿內(nèi)部破裂而導(dǎo)致的故障，這需要我們特別注意光纖布線，并盡可能避免由于人為造成的不必要的光纖故障。與此同時，光光纖護(hù)儀器（例如flukenetworks簡化了光度計(jì)，光纖的時域，光纖末端顯微鏡等）用于接收和維護(hù)在布線結(jié)束和日常維護(hù)期間，這不僅可以快速發(fā)現(xiàn)光纖故障問題，而且可以在問題發(fā)生時快速定位和解決問題，并確保網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行的安全性。
為了確保光信號的遠(yuǎn)程和低損耗傳輸，整個光纖鏈路必須滿足非常嚴(yán)格和敏感的物理?xiàng)l件，任何輕微的幾何失真或污染都將導(dǎo)致相當(dāng)大的信號衰減甚至通信中斷。 。
